島津納米顆粒測定儀器喜獲Pictton 2009大獎

    作為粒度儀的專業生產廠商，島津公司新推出了劃時代的納米顆粒測定儀器IG-1000，并在美國伊利諾斯州芝加哥市的邁考密展覽中心召開的Pictton 2009（3月8日至3月13日）展會眾多產品中脫穎而出，獲得“撰稿人獎”銅獎。

    與以往粒度測定儀器原理不同，IG方法（Induced Grating method）是島津公司開發的獨一無二的納米粒徑測定技術。IG-1000采用介電電泳原理，由介電電泳力使粒子構成衍射光柵，擴散后的濃度降低導致衍射光強度降低，從衍射光強度的時間變化可以得到粒子的擴散系數，進而得到粒子的粒徑。

    與目前采用散射光的動態光散射儀器（DLS）方法相比較, 優勢明顯。測定范圍最低到0.5nm，在單一納米顆粒領域可以獲得十分良好的信噪比（S/N），靈敏度也非常高。即便樣品中含有少量的粗大粒子時對測定也沒有影響，分布廣的樣品可以得到正確的結果，克服了以往DLS產品耐污染性差的缺點。IG-1000不使用散射光，因此不受物理參數的限制，不要求輸入折射率因子（refractive index）作為測量條件。原始數據（衍射光強度對時間的變化）可以用來進行測定結果的可靠性驗證。

    與島津多種型號的激光粒度儀聯合使用，實現了從納米到微米范圍的可靠測定。